offriamo i fotorivelatori di wafer della struttura di wafer come segue:
Materiale |
X |
spessore (nm) |
drogante |
doping concentrazione |
inp |
\u0026 EMSP; |
1000 |
n (zolfo) |
3e + 16 |
a (x) GaAs |
0.53 |
3000 |
u / d |
5e + 14 |
inp |
\u0026 EMSP; |
500 |
n (zolfo) |
3e + 16 |
substrato |
\u0026 EMSP; |
\u0026 EMSP; |
si (fe) |
\u0026 EMSP; |
fonte: semiconductorwafers.net
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