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2-21.area utile

2. definizione delle proprietà dimensionali, terminologia e metodi del wafer al carburo di silicio

2-21.area utile

2018-01-08

una sottrazione cumulativa di tutte le aree del difetto rilevate dall'area di qualità del wafer frontale nella zona di esclusione del bordo. il valore percentuale rimanente indica che la proporzione della superficie del lato frontale è libera da tutti i difetti rilevati (non include l'esclusione del bordo).

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